Product 3

6.可测量二元合金、三元合金等的镀膜厚及成份（需要客户自己提供结构一致的标样）；

1.无损、精确、快速测量各种塑料、电子元器件、电器、金属、溶液等物件里面的有毒有害元素；

2.对镉（Cd）、铅（Pb）、铬（Cr）、溴（Br）、汞（Hg）的检出限最高可达1PPm，具体情况下长期稳定检出限见下表；

基材目标元素	塑料（ppm）	金属（ppm）
铅(Pb)	2	100
镉(Cd)	2	5
汞(Hg)	2	ND
六价鉻(Cr+6)	2	ND
多溴联苯(PBBs)	2	ND
溴联苯醚(PBBEs/PBDEs)	2	ND

注：“ND”表示基材中一般不含某种元素，比如：金属中一般不含汞和溴，对于这种情况我们在软件中不设相关检测项目；第四项我们实际上是测量总铬含量，第五、六项我们合并测量总溴含量。

3.应用在化学工业、钢铁、水泥、陶瓷、电子、环保、食品、造纸、石油、煤炭、有色金属等领域的研发和品质管理(生产控制)；

注：XRF（X射线荧光光谱仪）分析为相对分析，分析结果的精密度和机器性能有关，分析结果的准确度和标样及机器本身性能有关。故为达到最好使用效果，请客户在标样方面和我们配合。

X-射线是以一种电磁辐射的形式存在。和可见光一样，而其能量却是后者的5000倍或更大。如同可见光，X-射线是由原子内部所产生的，与光不同之处为他们发自于轨域的最内部。此类的射线称之为X-射线荧光辐射，其能量依不同的发射物质而定。

原子是由原子核及包围它的电子构成，电子的数目与构成核子的带正电质子数目相同，从外表看来，原子在电管上为中性，电子在核外依一定的轨道运行，轨道中最靠近原子核的称为K轨道，顺次往外的轨道为L,M,N等轨道，若将一个电子从原子中移开，则一定花费一定的能量。此种能量是愈近原子核所需的能量愈大。

若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。

下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K 辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L 辐射可划分为Lα 辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射，此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。

特定的X-射线可由比例计数器来侦测。当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。

使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。

在有些情况，如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求：

而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量。

6. 准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.15 x 0.15 mm(使用0.15 x 0.15 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.30 x 0.30mm准直器)

英国 ▪ 美国 ▪ 加拿大 ▪ 澳大利亚 ▪ 纽西兰 ▪ 西班牙 ▪ 波兰 ▪ 此利时 ▪ 香港 ▪ 中国 ▪ 台湾 ▪ 韩国 ▪ 新加坡 ▪ 印度 ▪ 马来西亚 ▪ 菲律宾 ▪ 泰国 ▪ 印度尼西亚 ▪ 越南 ▪ 柬埔寨 ▪ 南非 ▪ 尼日利亚